SIA „Labochema Latvija” uzaicina Jūs uz uzņēmuma Thermo Fisher Scientific semināru „An Introduction to Surface Characterisation with XPS and Application Areas”.

Rentgenstaru fotoelektronu spektroskopija (X-ray photoelectron spectroscopy - XPS) ir kvantitatīva spektroskopijas metode, kuru pielieto elementu sastāva, empīriskas formulas, ķīmiskā un elektroniskā stāvokļa noteikšanai materiālos. XPS spektrus iegūst, apstarojot materiālu ar rentgenstariem, vienlaicīgi mērot kinētisko enerģiju un elektronus, kuri tiek emitēti no analizējamā materiāla virsmas. Šī analītiskā metode tiek plaši izmantota:

• pusvadītāju, elektronikas
• ultra-plāno plēvju
• nanomateriālu, kompozītmateriālu, biomateriālu
• katalizatoru
• pārklājumu metāla, stikla, polimēru

un citu materiālu virsmu ķīmiskai analīzei zinātniskos pētījumos un tehnoloģiskos pielietojumos, to skaitā nanotehnoloģiju jomā. Ar XPS metodes fizikālajiem principiem, pielietošanas iespējām, un analītiskās aparatūras klāstu Jūs iepazīstinās Dr. Tim Nunney un Dr. Michael Mannsberger (Thermo Fischer Scientific). Jums būs iespēja uzdot interesējošus jautājumus prezentāciju laikā, kā arī personīgi aprunāties pēc lekcijām ar vieslektoriem. SEMINĀRA DATUMS 2016. gada 13. septembrī SEMINĀRA SĀKUMS plkst. 11:00 SEMINĀRA BEIGAS plkst. 14:00 (ar pārtraukumu) SEMINĀRA VIETA Cietvielu fizikas institūta konferenču zālēĶengaraga iela 8, Rīga. Dalība seminārā – bezmaksas. Seminārā lekcijas tiks lasītas angļu valodā. Kontaktpersonas:

• SIA “Labochema Latvija”, Pāvels Karabeško +371 26197937
• LU CFI, Dr. phys. Anatolijs Šarakovskis +371 67187471

Ar cieņu,SIA „Labochema Latvija” xpssimplified.com