Rentgenstaru fotoelektronu spektroskopija (X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)) ir kvantitatīva spektroskopijas metode, kuru pielieto elementu sastāva, ķīmiskā un elektroniskā stāvokļa noteikšanai materiālos. XPS spektrus iegūst, apstarojot materiālu ar rentgenstariem, vienlaicīgi mērot kinētisko enerģiju un elektronu skaitu, kuri tiek emitēti no analizējamā materiāla virsmas. Šī analītiskā metode tiek plaši izmantota metālu, stiklu, polimēru, pusvadītāju, biomateriālu, katalizatoru un citu materiālu virsmu ķīmiskai analīzei zinātniskos pētījumos un tehnoloģiskos pielietojumos, to skaitā nanotehnoloģiju jomā.
Ar šīs metodes fizikālajiem principiem, analītiskās aparatūras klāstu un pielietošanas iespējām jūs iepazīstinās Dr.Michael Mannsberger (Thermo Fischer Scientific pārstāvis), nolasot lekciju „An Introduction to Surface Characterisation with XPS„ (angļu valodā).
Jums būs iespēja uzzināt par Thermo Fisher Scientific jaunākajiem tehnoloģiskajiem un inovatīvajiem sasniegumiem XPS tehnoloģijā, ražotāja rentgenstaru fotoelektronu spektrometru sortimentu un arī uzdot interesējošus jautājumus, kā arī personīgi aprunāties pēc lekcijas par ražotāja iekārtām.
 "Ievads virsmu raksturošanā ar rentgenstaru fotoelektronu spektroskopiju"){kind=link}