Rentgenstaru fotoelektronu spektrometrs (XPS)

Pielietojumi un iespējas

Liela laukuma spektroskopija

Augstas efektivitātes lēcu un detektoru kombinācija nodrošna augstāko jutību liela laukuma spektroskopijas pielietojumiem; augstas izšķirtspējas spektri iegūstami dažās sekundēs.

• Augstākā iespējamā ķīmisko elementu jutība
• Sešu kanālu elektronu pavairotāji, kas nodrošina maksimāli iespējamo dinamikas apgabalu
• Dvīņu kristālu monohromators, lai iegūtu augstāko rentgenstaru blīvumu

Maza laukuma spektroskopija

ESCALAB Xi piedāvā ātri iegūstamu un precīzu maza laukuma analīzi.

• Maza laukuma analīze iespējama no >900 µm līdz 20 µm
• Avota definēta analīze no >900 µm līdz <200 µm
• Lēcu definēta maza laukuma analīze līdz pat <20 µm
• Datorprogramma nodrošina parauga virsmas apgabaly izvēli, izmantojot tiešsaistes attēlu kontroli

Ātra paralēlā attēlveidošana

Paralēli iegūstami XPS ķīmiskie attēli iegūstami ātri un ar augstu izšķirtspēju.

• Ķīmisko elementu telpiskā izšķirtspēja: <3 µm
• Maza laukuma retrospektīva spektroskopija apgabaliem <6 µm
• Detektēšanas sistēma bez liekiem artefaktiem
• Attēlveidošana iespējama gan lielām, gan mazām struktūrām
• Attēlveidošanai un spektroskopija izmantota viena un tā pati lēca
• Attēlu kopums, kas ļauj veikt kvantitatīvu ķīmiskā stāvokļa sadalījuma veidošanu
• Kompozīcijas attēlu analīzi atvieglo PCA

Enerģijas izšķirtspēja

Izcilu enerģijas izšķirtspēju nodrošina moderns analizatora dizains kombinācijā ar dvīņu kristāla mikrofokusējošu rentgenstaru monohromatoru.

• Atsevišķu ķīmisko stāvokļu identifikācija un kvantifikācija
• Pārklājušos pīķu izšķiršana un mazu virsmas ķīmijas atšķirību analīze

Izolatoru analīze

Elektrību nevadoši paraugi ir viegli analizējami, izmantojot modernāko lādiņa kompensāciju.

• Automatizēta izolatoru analīze

Dziļuma analīze

Moderns jonu lielgabals nodrošina augstu strāvas blīvumu pat pie mazām stara enerģijām. Jonu lielgaba automatizēta pielāgošana nodrošina optimālu krātera kvalitāti un kodināšanas ātrumu.

• Azimutāla un ārpus ass parauga rotācija, kodināšanas laikā
• Jonu lielgabala darbības režīmu pilna kontrole ar datoru
• Automatizēta darbība ar gāzēm, lai nodrošinātu kodināšanas ātruma atkārtojamību
• Optimālu leņķiskās izšķirtspējas atkārtojamību nodrošina datorprogrammatūras kontrole
• Eucentrisks slīpums, lai saglabātu konstantu analīzes pozīciju visiem parauga biezumiem
• Tiešs mehānisks dzinulis nodrošina slīpuma pozīcijas precizitāti
• Integrēti instrumenti ARXPS mērījumu apstrādei, tajā skaitā Max-Ent (profila rekonstrukcija) un multislāņu biezuma kalkulators

Atstaroto elektronu zaudētās enerģijas spektroskopija

Izmantojot ESCALAB Xi+ lēcu elektronu avotu, iespējams iegūt komplementāru elektronisku, strukturālu un fāzu informāciju.

• Ūdeņraža identifikācija un kvantifikācija polimēriem un citiem materiāliem
• Šaura enerģijas izplūšana un enerģijas diapazons no 0 līdz 1000 eV

Izkliedes spektroskopija

Apgriežot polaritāti lēcām un analizatora barošanas pievadiem, veicami ISS mērījumi.

• Kanāla elektronu pavairotāji nodrošina maksimālu dinamisko apgablu, nebojājot attēlu detektoru

Ultra-violetā fotoelektronu spektroskopija

Izmantojot augsta plūsmas blīvuma UV spuldzi, ātri iegūštami augstas izšķirtspējas UPS mērījumi.

• Izcila elektronikas satbilitāte un zemas enerģijas jutība, kas nepieciešama darba funkcijas mērījumiem
• Mu-metālu analīzes kamera nodrošina optimālu magnētiskā lauka ekranēšanu