Kategorija: Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: BioLogic; VMP3
Īss apraksts: VMP3 is zinātniskiem pētījumiem paredzēts multi-kanālu potenciostats/galvanostats, kas aprīkots ar diviem impedances mērīumu moduļiem un 15 neatkarīgiem kanāliem, no kuriem viens ir īpaši paredzēts mazu strāvu mērījumiem. Instruments ir nozīmīgs bateriju pētījumiem.
Kategorija: Materiālu raksturošana; Ķīmijas laboratorijas un to aprīkojums
Ražotājs; Modelis: Anton Paar; Litesizer 500
Īss apraksts: Ar LitesizerTM 500 iespējams noteikt daļiņu izmērus, zēta potenciālu un molekulāro masu, mērot dinamisko (DLS), elektroforētisko (ELS) un statisko gaismas izkliedi (SLS) kā arī parauga gaismas caurlaidību un gaismas laušanas koeficientu.
Kategorija: Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: SETARAM; LABSYS Evo
Īss apraksts: Ar LABSYS evo STA 1600 iespējams analizēt paraugus pie temperatūrām līdz pat 1600°C. Instrumentu izmanto, lai uzzinātu materiālu termisko uzvedību, pakļaujot tos ekstrēmām temperatūrām ražošanas, darbības vai pārstradāšanas procesos.
Kategorija: Mikroskopija; Materiālu raksturošana; Tīrtelpas
Ražotājs; Modelis: Tescan; Lyra
Īss apraksts:
Kategorija: Mikroskopija; Materiālu raksturošana; Tīrtelpas
Ražotājs; Modelis: Fei;Tecnai GF20
Īss apraksts: TEM FEI Tecnai G2 F20 ir elektronu mikroskops ar visaugstāko izšķirtspēju Latvijā. Tā mērījumi dod augstas izšķirtspējas informāciju par parauga sastāvu, struktūru un morfoloģiju.
Kategorija: Spektroskopijas metodes un lāzeri; Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: Edinburgh Instruments; FLS1000-DD-stm
Īss apraksts: Spektrometrs paredzēts fotoluminescences raksturošanai. Ispējams veikt emisijas spektra un ierosinājuma spektra mērījumus, kā arī noteikt kvantu iznākumu, absorbciju un atstarošanos.
Kategorija: Materiālu raksturošana; Spektroskopijas metodes un lāzeri
Ražotājs; Modelis: Bruker; Equinox 55
Īss apraksts: Infrasarkanā starojuma Furjē transformācijas vakuuma spektrometrs Bruker Equinox 55 dod iespēju veikt FTIR analīzi organiskiem un neorganiskiem materiāliem, kristāliem, pusvadītājiem.
Kategorija: Spektroskopijas metodes un lāzeri; Materiālu raksturošana; Mikroskopija
Ražotājs; Modelis: Bruker; Vertex 80v
Īss apraksts: Infrasarkanā starojuma Furjē transformācijas vakuuma spektrometrs Bruker VERTEX 80v dod iespēju veikt FTIR analīzi organiskiem un neorganiskiem materiāliem, kristāliem, pusvadītājiem. Iekārta ir aprīkota ar Hyperion 2000 infrasarkano mikroskopu.
Kategorija: Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: Hy-Energy; LLC PCTPro-2000, masu spektrometrs RGAPro-100
Īss apraksts: Iekārtas pamatā ir gāzu sorbcijas mērījumi, izmantojot Sievert tipa tilpuma izmaiņu metodi. Iekārta pielietojama jaunu materiālu izpētē (nanomateriālu un porainu virsmu), virsmas un tilpuma absorbciju pētniecībā, fokusējoties uz pielietojumu enerģijas uzglabāšanā.
Kategorija: Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: Ecopia; HMS-5000
Īss apraksts: Iekārta raksturo dažādu materiālu elektriskās īpašības, galvenokārt pusvadītājus (Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN), metālu slāņi, oxīdi, u.c. Ar iekārtu iespējams noteikt arī pusvadītāju vadāmības tipu (N vai P) un visus mērījumus var veikt, mainot temperatūru.
Kategorija: Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: Agilent; G200
Īss apraksts: Galvenais instrumenta pielietojums ir plāno kārtiņu un pārklājumu, nanomateriālu un tilpuma materiālu virsmas slāņu mikromehānisko īpašību pētīšana.
Kategorija: Materiālu raksturošana; Spektroskopijas metodes un lāzeri
Ražotājs; Modelis: Oxford Instruments; SM4000-8
Īss apraksts: Sistēma izmantojama luminescences mehānismu un optisko absorbcijas joslu izcelsmes izpētē, izmantojot optiski inducētu elektronu paramagnētisko rezonansi (EPR).
Kategorija: Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: Amatec; Dycor LC-D
Īss apraksts: Galvenie pielietojumi ir kontrole un diagnostika tehnoloģiskiem procesiem vai pielietojumiem, kurā izmanto vakuumu vai kontrolēta sastāva atmosfēru un vakuumiekārtu teču diagnostika.
Kategorija: Materiālu raksturošana; Ķīmijas laboratorijas un to aprīkojums
Ražotājs; Modelis: Metrohm; 914 pH Meter/Conductometer
Īss apraksts:
Kategorija: Materiālu raksturošana; Materiālu sintēze un apstrāde
Ražotājs; Modelis: Metrohm Autolab; PGSTAT302N
Īss apraksts: Instruments paredzēts galvanostatiskiem un potenciostatiskiem mērījumiem elektroķīmiskās sistēmās (elektroķīmiskas šūnas, baterijas, degšūnas, u.c.).
Kategorija: Materiālu raksturošana; Tīrtelpas; Mikroskopija
Ražotājs; Modelis: Dažādi
Īss apraksts: Profilometrs pielietojams caurspīdīgu kārtiņu/fotorezista un citu kārtiņu biezuma noteikšanā, plānu un biezu kārtiņu mērījumiem, nelīdzenumu pētījumiem,virsmas kvalitāte un defektu pārbaudei.
Kategorija: Spektroskopijas metodes un lāzeri; Mikroskopija; Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: Spectroscopy & imaging GmbH; TriVista CRS Confocal Raman Microscope (TR777)
Īss apraksts: Mērījumi ar Ramana spektrometru dod iespēju identificēt un kvalitatīvi analizēt ķīmisko struktūru, organiskos un neorganisko materiālus.
Kategorija: Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: Rigaku; MiniFlex 600
Īss apraksts: MiniFlex benchtop rentgenstaru difraktometrs ir daudzfunkcionāla difrakcijas iekārta, ar kuru iespējams raksturot parauga atomāro struktūru. Instruments dod iespēju identificēt fāzes un noskaidrot to attiecību, uzzināt kristālu orientāciju kārtiņā u.c. Piemērots pulveriem vai paraugiem ar plakanu virsmu.
Kategorija: Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: PANalytical; X'Pert Pro Powder
Īss apraksts: Augstas izšķirtspējas pulver difrakcija, fāžu identifikācija un kvantitatīva fāžu analīze, plāno kārtiņu un pāŗklājumu analīze, kristalītu izmēra un mehānisko spriegumu pētījumu, kinētika un mērījumi dažādās atmosfērās.
Kategorija: Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: EDAX; Eagle III XPL
Īss apraksts: Vispārīgi instrumentu pielieto dažādu materiālu un iekārtu sastāvai analīzei. Salīdzinot ar uz XRF bāzes veidotu elektronu mikroskopu mikroanalizatoru, šajā iekārtā nekādas papildus parauga apstrades nav nepieciešamas. Analizēt var gan parauga pamata komponentes, gan piemaisījumus.
Kategorija: Materiālu raksturošana; Spektroskopijas metodes un lāzeri
Ražotājs; Modelis: ThermoFisher; ESCALAB Xi
Īss apraksts: XPS ir spēcīgs instruments parauga ķīmiskā sastāva un ķīmiskā stāvokļa raksturošanai. Instruments dod iespēju ne tikai uzņemt XPS spektru, bet arī veikt virsmas un tilpuma sadalījuma analīzi kā arī advancētas metodes (UPS, EELS, u.c.).
Kategorija: Materiālu raksturošana; Spektroskopijas metodes un lāzeri
Ražotājs; Modelis: Sciencetech Inc.; SS150W
Īss apraksts: Saules simulators ir standarts saules paneļu apgaismošanā un aprīkots ar starojuma avotu, kas līdzīgs Saules spektram. Pētāmajiem paraugiem jāatbilst saules paneļa uzbūves pamatprincipiem ar izmēru 10x10 cm2 un iekārta ir izmantojama kombinācijā ar sprieguma avotu un elektrometru.
Kategorija: Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: KP Technology SKP5050
Īss apraksts: Galvenie pielietojumi ir organisku materiālu virsmas potenciāla mērījumi, metālu darba funkcijas noteikšana, neorganisku pusvadītāju Fermi līmeņa noteikšana.
Kategorija: Materiālu raksturošana; Spektroskopijas metodes un lāzeri
Ražotājs; Modelis: J. A. Woollam Co., Inc.; RC2 - XI
Īss apraksts: Elipsometrs mēra polarizācijas izmaiņas gaismai, kas atstarojas vai iziet cauri materiālu struktūrai. Elipsometrija tiek galvenokārt izmantota, lai noteiktu kārtiņu biezumus un optiskās konsantes, bet to arī izmanto, lai raksturotu sastāvu, kristaliskumu, nelīdzenumus, dopantu koncentrācijas un citas materiālu īpašības, kas saistītas ar parauga izraisītu optiskā signāla izmaiņu.
Kategorija: Materiālu raksturošana
Ražotājs; Modelis: Shimadzu Corp. - DTG-60
Īss apraksts: Galvenie pielietojumi ir iztvaikošanas un kondensācijas procesu izpēte vielām, kristāliem un kristālu struktūru kristalizācijas un kušanas temperatūru noteikšana, kā arī amorfu vielu mīkstināšanās temperatūra.
Kategorija: Materiālu raksturošana; Spektroskopijas metodes un lāzeri
Ražotājs; Modelis: Freiberg instruments - Lexsygresearch LMS
Īss apraksts: Iekārtas pamata funkcija ir cietvielu defektu analīze, izmantojot dažādas fizikālas parādības: Termostimulēta luminescence (TSL); Optiski stimulēta luminescence (OSL); Katodluminescence (CL); Rentgenluminescence (XRL). Iekārtā iespējams apstarot paraugu ar rentgenstarojumu, beta starojumu un UV lāzeri.
Kategorija: Materiālu raksturošana; Materiālu sintēze un apstrāde; Mikroskopija
Ražotājs; Modelis: Form Factor - MPS 1500
Īss apraksts: