Spektroskopiskais elipsometrs WOOLLAM RC2
Latvijas Universitātes Cietvielu fizikas institūta, Doktorantūras skolas „Funkcionālie materiāli un nanotehnoloģijas” zinātniskais seminārs 18. septembrī, trešdien, plkst. 13.00 uzstājas Ilze Aulika, Jeļena Butikova, Anatolijs Šarakovskis (LU CFI).
Šajā seminārā tiks īsi izklāstīti jaunā spektroskopiskā elipsometra WOOLLAM RC2, kas ir pieejams LU CFI, darbības principi un izmantošanas iespējas.
Spektrālā elipsometrija (SE) ir optiskā metode plāno kārtiņu un daudzslāņu materiālu raksturojumam, ar kuru var noteikt optiskās konstantes – n&k, biezumu, raupjumu u.c. parametrus.
Ar šo elipsometru var raksturot nanomateriālus, anizotropās plānas plēves, raupjus paraugus vai materiālus ar tukšumiem. Gaismas avota zema enerģijas blīvuma dēļ metode ir piemērota audiem in vivo.
Semināra galvenās tēmas:
- Kas ir spektroskopiskā elipsometrija, tās iespējas un ierobežojumi
- RC2 elipsometra sistēmas pārskats un precizitāte
- Kādiem materiāliem paredzēta elipsometrija
- Kādus parametrus var izmērīt
Seminārs notiks angļu valodā.