Skenējošais elektronu mikroskops Zeiss Crossbeam 550
Latvijas Universitātes Cietvielu fizikas institūta, Doktorantūras skolas „Funkcionālie materiāli un nanotehnoloģijas” zinātniskais seminārs uzstājās Dr. Fabian Perez (ZEISS GmbH pārstāvis, Vācija).
Prezentāciju vadīs: ZEISS GmbH pārstāvis Dr. Fabian Perez (Vācija)
Prezentācijas tēmas:
- TEM lamelu sagatavošana
- Zeiss FIB kolonnas tehnoloģija
- Advancētas TEM lamelu pagatavošanas tehnoloģijas
- Gemini 2 SEM kolonna
Prezentācijas laikā būs iespējams uzdot jautājumus par FIB tehnoloģiju nozares ekspertiem, kā arī iepazīties ar jaunākajām tehnoloģijām, ko piedāvā viens no vadošajiem ražotājiem nozarē.